薄膜アプリケーションの進化は,高度な計測ソリューションを必要としています.光電技術により,穏やかで高速な測定が可能になります.プロセス最適化と材料工学のためのAI駆動分析で強化.
JINSP SR100Qスペクトロメーターは,科学級のHamamatsu S7031TE冷却領域配列CCDチップを統合しています. 24*24μmのピクセルサイズと92%の量子効率で,超紫外線帯の反応が優れている弱い信号に対する感度とSNRを向上させる.先進的な光路と低騒音FPGA信号処理は安定した信頼性の高いパフォーマンスを保証する.
検出器パラメータ | ||
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検出器 | チップタイプ | バックライト付きTE冷却ハママツーS7031 |
効果的なピクセル | 1024*122 | |
ピクセルサイズ | 24*24μm | |
検出領域 | 24.576*2.928mm | |
光学パラメータ | ||
オプティカルデザイン | F/4型クロス | |
数値アパルチャー | 0.13 | |
焦点距離 | 100mm | |
入り口の割れ目幅 | 10μm,25μm,50μm,100μm,200μm (カスタマイズ可能) | |
ファイバーインターフェース | SMA905 フリースペース | |
電気パラメータ | ||
統合 時間 | 8ms~3600s | |
データ出力インターフェース | USB3で0RS232,RS485,20ピン接続 | |
ADC ビット深さ | 16ビット | |
電源 | 5V | |
稼働電流 | <3.5A | |
物理的パラメータ | ||
動作温度 | 10°C~40°C | |
貯蔵温度 | -20°C~60°C | |
動作湿度 | <90%RH (凝縮がない) | |
サイズ | 180mm*120mm*50mm | |
体重 | 1.2kg |
モデル | スペクトル範囲 (nm) | 解析度 (nm) | 割れ目 (m) |
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SR100Q-G21 | 200~950 | 6.8 | 200 |
SR100Q-G22 | 350~1100 | 2.2 | 50 |
SR100Q-G23 | 200〜775 | 1.6 | 50 |
1.0 | 25 | ||
SR100Q-G24 | 350~925 | 1.0 | 25 |
0.7 | 10 | ||
SR100Q-G25 | 532~690 ((4400cm-1*) | 13cm-1 | 50 |
SR100Q-G26 | 638~800 ((3200cm-1*) | 10cm-1 | 25 |
SR100Q-G27 | 785~1050 ((3200cm-1*) | 11cm-1 | 50 |
注: * と記されたモデルは主にラマンアプリケーションのために設計されています.
光線探査機を通して導かれた光は フィルムの空気面と基板面に反射します 光譜計はそれらの干渉を記録します厚さ (d) を極度法 (θ) で抽出する, n,およびスペクトル極端).より密度の高いフレージはより厚さを示し,より長い波長はフレージ密度を減少させる.適切なスペクトル範囲と解像度選択は測定の忠実性を向上させる..
JINSP 株式会社は,スペクトル検出技術で 17 年以上の経験を持つプロのサプライヤーで,ラマン,FT-IR,LIBS テクノロジーを専門としています.私たちのコアテクノロジーは国際的にリードしています.
JINSPは北京に本社を置き,中国江苏に製造所を置いている.2015ISO14001:2015CE,ECAC,ドイツのICTセキュリティテストを含む包括的な認証を提供しています.
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