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PCT 高圧加速老化試験室 半導体産業用
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PCT 高圧加速老化試験室 半導体産業用
PCT 高圧加速老化試験室 半導体産業用
仕様
モデル番号 :
ND-A401
産地 :
中国
最低注文量 :
1セット
支払条件 :
L/C,D/A,D/P,T/T,ウェスタン・ユニオン,マネー・グラム
供給能力 :
100セット/月
配達時間 :
7-22の仕事日
パッケージの詳細 :
木製の箱 (標準輸出パッケージ)
ブランド :
ニーデ
カスタマイズ :
お待たせしました
工場 :
そうだ
顧客 :
500以上
材料 :
SUS304 または オーダーメイド
販売後サービス :
そうだ
交通機関 :
海で
問題への答え :
24時間以内に
記述
PCT 高圧加速老化試験室 半導体産業用
製品属性
属性 価値
ブランド ニーデ
カスタマイズ お待たせしました
工場 そうだ
顧客 500以上
材料 SUS304 または オーダーメイド
販売後サービス そうだ
交通機関 海 で
問題への答え 24時間以内に
製品説明

PCT (プレッシャークッキングテスト) 老化室は,半導体産業における不可欠で高度な専門機器です.半導体の能力を徹底的に評価し,環境条件に挑戦させることです.

試験中,製品は室内に置かれ,温度,湿度,圧力の設定を正確に制御します.この厳格 な 試験 プロセス は,極端 な 条件 の 中 で 半導体 サンプル の 圧力 抵抗 と 密度 を 評価 する.

半導体製造者に 製品性能と信頼性の 重要な知見を得ることができます 厳しい環境をシミュレーションすることで製造者は設計や製造プロセスにおける潜在的な欠陥を特定できるより堅固で信頼性の高い半導体製品へと導きます

主要な仕様
パラメータ 範囲 注記
温度範囲 105°C~+132°C 飽和蒸気温度
湿度範囲 100%RH 飽和蒸気湿度
圧力範囲 (気圧計) 0.2kg/cm2から2.0kg/cm2または (2.2kg/cm2) 制御点圧 (安全圧容量3.5Kg/cm2)
タイムスケール 0から999時間 調節可能
温度分布 ≤±2.0°C
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PCT 高圧加速老化試験室 半導体産業用

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製品詳細
モデル番号 :
ND-A401
産地 :
中国
最低注文量 :
1セット
支払条件 :
L/C,D/A,D/P,T/T,ウェスタン・ユニオン,マネー・グラム
供給能力 :
100セット/月
配達時間 :
7-22の仕事日
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Dongguan Neide Technology Co., Ltd

Active Member
1 年数
guangdong, dongguan
主な製品 :
, ,
年間総額 :
5million-85million
従業員数 :
50~100
認証レベル :
Active Member
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