適用紹介:
a Smdが2835 10000k製造業者および製造者を導いたことを見つけなさい。質Smdを導いた2835の3030の5730の4014の10000k製造業者を選びなさい
フェニックスは.15000Kによってバックライトのために使用されてできる導かれたストリップのための最もよい上等.10000Kである。
2835の3v SMDの青い導かれた破片は棒状螢光灯による照明のための軽い破片CCT 10000Kを導いた
速い細部:
入れられた電圧(V): | 3V |
保証(年): | 2年 |
タイプ: | Smdは破片2835を導いた |
解決サービスをつけること: | 照明および回路部品の設計 |
発光効率(lm/w): | 140lm/w |
寿命(時間): | 50000 |
作業時間(時間): | 20000 |
破片材料: | INGAN |
色を出すこと: | 10000-15000k |
力: | 0.2W |
視野角(°): | 120度 |
演色評価数(RA): | 80 |
パッキング袋: | 220*240nm |
原産地: | 蘇州、江蘇 |
適用: | LEDのストリップ |
パッケージのタイプ: | Sufaceの台紙のパッケージ |
前方流れ: | 60MA |
サイズ: | 2.8*3.5*0.65mm |
パッキング: | 4000 PC/ロール |
製品仕様書:
パッケージの構造
絶対最高評価
項目 | 記号 | 絶対最高評価 | 単位 |
前方流れ | 60 | mA | |
逆電圧 | Vr | 5 | V |
脈打った前方流れ | IFP* | 80 | mA |
電力損失 | PD | 0.2 | W |
実用温度 | 上 | -40~85 | ℃ |
保管温度 | TST | -40~85 | ℃ |
静電放電 | ESD | 2000年(HBM) | V |
接合部温度 | Tj | 120 | ℃ |
LEDの熱抵抗 | Rthのs-j | 30 | ℃/W |
典型的な電気光学の特性曲線:
LEDの信頼度試験のリスト
テスト項目 | テスト条件 | 標準 | Qty (PC) | Ac/Re |
生命テスト | 25℃、1000Hrs@60mA | / | 20 | 0/1 |
高温 | 85℃、1000Hrs@60mA | / | 20 | 0/1 |
低温 | -40℃、1000Hrs@60mA | / | 20 | 0/1 |
高湿度熱 |
85℃、85%RH、 1000Hrs@60mA |
/ | 20 | 0/1 |
低温の貯蔵 | -40℃、1000Hrs |
JEITA ED-4701 200 202 |
20 | 0/1 |
高温貯蔵 | 100℃、1000Hrs |
JEITA ED-4701 200 201 |
20 | 0/1 |
温度周期 | (- 40' C 30mins--25' C (5mins)--100 ' C (30mins)、臨時雇用者の変更率:3+/-0.6' C/min) |
JEITA ED-4701 100 105 |
20 | 0/1 |
熱衝撃 | -40 ' C (15mins)--100 ' C (15mins)、変更の時間 <5mins> | MIL-STD-202G | 20 | 0/1 |
脈拍の生命テスト
|
Tp=1ms、DC=0.1、D=Tp/T @ 3×60mA | / | 20 | 0/1 |
ESDテスト(HBM) | 2000V、200V/Stepの、前方及び逆テスト3times |
AEC (Q101-001) |
20 | 0/1 |
Soldingの抵抗 |
260±5℃、10S、3times 前処理30℃、70%RH |
JEITA ED-4701 300 302 |
20 | 0/1 |
退潮IVの腐食 |
260±5℃、10S、1time 前処理30℃、70%RH、168Hrs |
/ | 20 | 0/1 |
判断の規準 | ||||
前方電圧VF | VFの最高増加 < 1=""> | |||
逆の現在のIR | IRの最高増加 < IRmax=""> | |||
光度IV | IV腐食 < 40=""> | |||
※は能力テスト規準をはんだ付けする:適用範囲は95%よりより少しではない 注:測定はテストされたサンプルが正常な包囲された条件に戻った後取られる(一般に2時間後で) |