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139 マイクロン 無形シリコン A-Si 曲線型 A-Si DR 非破壊性試験
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139 マイクロン 無形シリコン A-Si 曲線型 A-Si DR 非破壊性試験
仕様
モデル番号 :
H3543HWF-AG
産地 :
中国
最低注文量 :
1
パッケージの詳細 :
標準カートンパッケージの輸出
材料 :
アモルフシリコンセンサー
温度 :
10~35°C (運用) 10~50°C (保管)
湿度 :
RH 30~70% (凝縮しない)
製品名 :
DR デジタルフラットパネル検出器
レセプタータイプ :
Si
シンチレーター :
ゴス
アクティブ エリア :
350 × 430 mm
ピクセルピッチ :
139μm
決議 :
2560 x 3072
記述

139 マイクロン 無形シリコン A-Si 曲線型 A-Si DR そして非破壊性試験

 

H3543HWF-AG これは,無形シリコン表面センサーをベースにした携帯型無線フラット検出器で,パイプライン検査,産業検査,非破壊試験,その他の分野に適しています

 

センサー
レセプタータイプ a-Si

スキンチラターGOS

活性領域 350 x 430 mm

解像度 2560 x 3072

ピクセルピッチ 139 μm

電源とバッテリー

アダプター AC 100-240V,50-60Hz

アダプター 24V DC2.7A

電力消耗 < 20 W

バッテリーの動作時間 6.5 h

充電時間 4.5 h

 

画像品質
制限解像度 3.5 LP/mm

エネルギー範囲 40〜350KV

動的範囲 ≥84 dB

感度 ≥0.54 LSB/nGy

Ghos <1% 1番目のフレーム

DQE 42% @(1LP/mm)

28% @ (((2 LP/mm)

MTF) 68% @(1 LP/mm)

38% @(2 LP/mm)

20% @(3 LP/mm)

 

電気部品とインターフェース
A/D変換 16ビット

データインターフェイス ギガビットイーサネット/802.11ac 5G

取得 時間 ワイヤレス: 1s; 無線: 2s

暴露制御ソフトウェア/外側

内蔵メモリ 4 GB DDR4, 8 GB SD カード

 

メカニカル
寸法 583x437x21.8mm
体重 4.5kg

材料 アルミニウムとマグネシウム合金

フロントパネル 炭素繊維

 

環境問題

温度 10~35°C (動作) 10~50°C (保管)

湿度 30-70% RH (冷却しない)

侵入防止 IP54

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139 マイクロン 無形シリコン A-Si 曲線型 A-Si DR 非破壊性試験

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製品詳細
モデル番号 :
H3543HWF-AG
産地 :
中国
最低注文量 :
1
パッケージの詳細 :
標準カートンパッケージの輸出
材料 :
アモルフシリコンセンサー
温度 :
10~35°C (運用) 10~50°C (保管)
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HUATEC GROUP CORPORATION

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17 年数
beijing, beijing
ありがとうございました 2010
事業形態 :
Manufacturer, Exporter
主な製品 :
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年間総額 :
600-1000
従業員数 :
50~100
認証レベル :
Verified Supplier
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