プログラム可能なICの破片はさまざまな適用で使用することができる強力な、信頼できるデータ収集ICである。それは2.7Vに5.5Vまで調節可能な現在の出力、10msに10sの時間および-55Cに+150Cの保管温度をプログラムする2KV HBMのESDの保護を特色にする。このICの破片を使って、容易そして便利にDDRの記憶力ICにアナログ信号および多重交換装置をそれら得ることができる。それは精密なデータ収集および高性能を要求する適用のための理想的な選択である。
変数 | 指定 |
プログラミングの電圧 | 2.7Vへの5.5V |
インターフェイス | I2C、SPI、UART |
ピン・カウント | 8-100ピン |
現在の出力(最高) | 調節可能 |
業務計画周期 | 100から10000 |
タイプ | プログラム可能なICの破片 |
記憶 | 256Bへの64KB |
電圧 | 3.3V、5V、12V |
プログラミングの時間 | 10msへの10s |
ESDの保護 | 2KV HBM |
DDRの記憶力IC | はい |
アナログの多重交換装置IC | はい |
データ収集IC | はい |
プログラム可能なICの破片はユーザーのニーズに従って調節されるか、またはプログラムし直すことができる一種の集積回路(IC)である。それはさまざまなデータ収集、ゲート・アレーIC、フラッシュ・メモリICの破片および他の適用で広く利用されている。それに8から100つのピンまで、およびI2C、SPIおよびUARTのようないろいろなインターフェイスが及ぶ、ピン・カウントの広い範囲ある。それはまた調節可能な現在の出力(最高)およびさまざまなタイプの集積回路の電子部品を提供する。
プログラム可能なICの破片はISO9001証明を中国のOEM/ODMによって、与えられる通関サービスである。顧客は1部分から命令でき価格は交渉可能である。パッケージはテープ及び巻き枠、切られたテープおよびDigi巻き枠含んでいる。受渡し時間は2-3daysであり、支払の言葉はL/C、T/T、D/A、D/P、ウェスタン・ユニオン、である。供給の能力はDay+pcs+1-2daysごとの100000のエーカー/エーカーである。保管温度は-55Cへ+150Cであり、ピン・カウントは8-100のピンである。パッケージのタイプはQFP、BGAであり電圧は3.3V、5V、12Vである。実用温度は-40Cへ+125Cである。その上、プログラム可能なICの破片はまたDDRの記憶力IC、ゲート・アレーIC、およびデータ収集ICを含んでいる。
プログラム可能なICの破片は次の指針に従って包まれ、出荷される: